【intel ssd】SMART信息解释

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intel SSD Toolbox里边显示的Smart信息
首先说，查看Intel SSD smart信息最好最方便的当然就是自家的工具箱，用其他工具查看不是不可以，但是很多数据要自己换算，很麻烦。
下边就把各个选项的意思写一下：

首先各项值分成三个：
Raw，原始值；Normalized，正态值，实际上就是有的值是一个相对量，就用这个还描述一个什么样的程度（比如说磨损了60%这样）；threshold，临界值，对于某些项目超过这个值会有不幸的事情发生了

03：硬盘磁头加载时间
这个SSD没有，所以没意思。这个值是固定的，0

04：启停时间
这个也没意义，固定为0

05：重映射扇区数量
这个机械硬盘用户非常敏感的。实际上对于闪存来说，他的寿命是正态分布的，说是MLC能写入10000次以上，实际上说的是写入10000次之前不会发生“大量损坏”，某些位可能写入几十次就坏掉了。换言之，闪存坏掉是很正常的。Intel在制造固态硬盘的时候保留了一定的空间，当某块闪存出现问题之后即把坏的隔离掉，用好的来顶替。凡是闪存设备都存在这个问题，没必要大惊小怪的。这个值随着使用会不断增长的，只要增长的速度OK就好了。
50nm的盘（一代）要看Normalized值。这个值初始是100。当出现重映射扇区的时候这个不会立即变化，一直到3个扇区。一旦重映射达到4个扇区，这个变为1，之后每增加4个Normalized值+1。也就是，100对应的0-3个扇区，1对应4-7个扇区，2对应8-11个扇区，3对应12-15扇区，以此类推……
34nm的盘（二代）直接看Raw值，是多少就对应多少个重映射扇区。

09：通电时间
这个看Raw值，是多少就是多少小时。

0C：电源循环此时
这个就是经历了几次开机和关机。一次开关机+1。直接看Raw值。

C0：不安全关机次数
正常关机的时候电源会给硬盘一个通知，叫做STANDBY IMMEDIATE，就是把缓存数据迅速写入之后边上歇着，准备断电了。如果没有这个通知，就直接没电，那就是不安全的。不过SSD里边有电容，可以保证在紧急断电的情况下也能把数据安全的写到闪存里边。所以没必要担心。这个直接看Raw值。

E1：主机写入数据量
固态硬盘在写入的时候会消耗闪存，所以这个SSD会统计的。这个看Raw值，每写入65,536个扇区，这个值+1，所以用什么HDTune、Sandra之类的软件查SMART的可以自己算。SSD工具箱就是直接给你算好了，这个很简单，直接看是多少就好了。

E8：可用的预留闪存数量
前边05项说了，Intel SSD里边会保留一些容量来替换坏掉的闪存，所以这个值是非常重要的。当保留的闪存用光了，再出现坏掉的块的时候那这个硬盘就要结束寿命了。所以看05项没什么意义，盯住这个就对了。这个看Normalized值，新的盘所有的预留空间都在，所以是100。随着预留空间的消耗，这个值不断减小，减小到Threshold值10的时候，盘就完蛋了。实际上预留的空间很多，所以尽管放心用就好了啊

E9：闪存磨耗指数
前边05也一定说了，闪存写入次数是有限的，当到达一定值的时候，就会出现大量坏掉，这时候预留闪存就顶不住了，之后盘就会挂掉。所以这个实际上是SSD的年龄，而E8相当于健康状况。就是健康状况OK，到了年纪大了，也很容易突然健康急剧恶化死掉；反之，如果年纪轻轻健康很差的话，也是有较大的可能挂掉的。这个看Normalized值，从新的盘100，随着使用逐渐减小到1。之后就不会减少了，但是Intel表示SSD也不一定就挂掉，因为用户有可能踩到运气，赶上闪存体质好，所谓老而不死。

B8：点到点错误探测值
SSD里边有一个LGA (logical block addressing)，就是给OS看的逻辑扇区和实际的闪存地址之间的对应表。只有34nm的盘有这一项。这个看Normalized值。Intel资料没有说明具体含义，个人推测会从100减少，如果有搞清楚的还请指教。

所以呢，关键就是看E8和E9项。只要这两个OK，SSD就是年轻力壮的。

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解释：
03 – Spin Up Time （磁头加载时间）
The average time it takes the spindle to spin up. Since an SSD has no moveable
parts, this attribute reports a fixed raw value of zero (0) and a fixed normalized
value of 100. Use the Raw value for this attribute.
（SSD没这东西，所以这个值 固定为0）

04 – Start/Stop Count （开始/停止计数）
This type of event is not an issue for SSDs. However, hard disk drives can
experience only a finite number of these events and, therefore, must be tracked.
This attribute reports a fixed value of zero (0) and a fixed normalized value of 100.
Use the Raw value for this attribute.
（不知道，反正数值无意义）

05 – Re-Allocated Sector Count （重映射扇区数）
This attribute shows the number of retired blocks since leaving the factory (also
known as a grown defect count).  
The lithography (litho) of your drive determines which count you should use. Refer
to the drive name in the Select a Drive section. A ―1‖ in the twelfth position
indicates a 50nm drive, while a ―2‖ indicates a 34nm. For example in Figure 22:
SSDSA2M160G2GN indicates a 34nm drive.
For 50nm drives, the normalized value has an initial value of 100 but counts up from
1 for every 4 grown defects. The normalized value of this attribute becomes 1 when
there are 4 grown defects; the value is 2 when there are 8 grown defects, etc. See
the following table for details.
09 – Power-On Hours Count （通电时间）
This attribute reports the cumulative number of power-on hours over the life of the
device. Use the Raw value for this attribute.
Note:  The On/Off status of the device initiated power management (DIPM) feature affects
the number of hours reported.  
If DIPM is turned ―On‖, the recorded value for power-on hours does not include
the time that the device is in a ―slumber‖ state.
If DIPM is turned ―Off‖, the recorded value for power-on hours should match the
clock time, as all three device states are counted:  active, idle and slumber.
（累积通电时间）

0C – Power Cycle Count （通断电次数）
This attribute reports the cumulative number of power cycle events (power on/off
cycles) over the life of the device. Use the Raw value for this attribute.
（开关机的次数）

C0 – Unsafe Shutdown Count （异常关机次数）
This attribute reports the cumulative number of unsafe (unclean) shutdown events
over the life of the device. An unsafe shutdown occurs whenever the device is
powered off without STANDBY IMMEDIATE being the last command. Use the Raw
value for this attribute.
（非正常断电后增长）

E1 – Host Writes （数据写入量）
This attribute reports the total number of sectors written by the host system. The
raw value is increased by 1 for every 65,536 sectors written by the host. Use the
Raw value for this attribute.  
（SSD数据写入量）

E8 – Available Reserved Space （可用预留空间）
This attribute reports the number of reserve blocks remaining. The attribute value
begins at 100 (64h), which indicates that the reserved space is 100 percent
available. The threshold value for this attribute is 10 percent availability, which
indicates that the drive is close to its end of life. Use the Normalized value for this
attribute.
（这个算是颗粒寿命，等于低于10%SSD就离躺倒不远了）

E9 – Media Wearout Indicator （闪存磨耗指数）
This attribute reports the number of cycles the NAND media has experienced.  
The normalized value declines linearly from 100 to 1 as the average erase cycle
count increases from 0 to the maximum rated cycles.
Once the normalized value reaches 1, the number does not decrease, although it is
likely that significant additional wear can be put on the device. Use the Normalized
value for this attribute.
（如E8上面，等到低于10%，在没有预留可用空间的情况下，跌的可快了呢- -）

B8 – End to End Error Detection Count （端对端错误监测数）
This attribute is only available for 34nm, G2 drives and counts the number of times
errors are encountered during logical block addressing (LBA) tag checks on the data
path within the drive. Use the Normalized value for this attribute.
（LBA映射错误增长的数值？）

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转自pc绝对领域

被照X光的鱼

多謝LZ～

沙漠Yan

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